论微机控制系统的采样周期

• 作者: 唐景肃 阙沛文 黄晶
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 采样周期 离散化 数字控制系统 最小相位系统
• 年，卷（期）: 2003,（8）
• 所属期刊栏目: 工业控制
• 页码范围: 588-589,609
• 页数: 3页
• 分类号: TP271.81
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1671-4598.2003.08.011

摘要

对微机控制系统的采样周期进行了研究,以一典型控制系统为例,从理论上分析了采样周期对系统的稳定性、动态品质、抗干扰能力及数字PID控制作用的影响,并指出过小的采样周期会使最小相位系统的性质发生改变.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	阙沛文	上海交通大学自动检测研究所	109	1553	21.0	31.0
2	黄晶	上海交通大学自动检测研究所	17	207	7.0	14.0
3	唐景肃	太原理工大学信息工程学院	2	23	2.0	2.0