基于非线性插值的IC芯片检测算法

• 作者: 柯晓丹 王石刚 盛文蔚
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 计算机视觉 非线性插值 芯片检测
• 年，卷（期）: 2003,（8）
• 所属期刊栏目: 设计与应用
• 页码范围: 627-629
• 页数: 3页
• 分类号: TP3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1671-4598.2003.08.024

摘要

提出把Jensen非线性插值算法用于对IC芯片引脚的长、宽及脚间距等尺寸的计算机视觉检测中,同时结合划分子区域检测策略,能使检测精度达到子象素级,检测速度达到在线检测的要求.实验证明了这种方法的可行性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王石刚	上海交通大学机械与动力工程学院	122	1350	19.0	31.0
2	柯晓丹	上海交通大学机械与动力工程学院	6	49	5.0	6.0
3	盛文蔚	上海交通大学机械与动力工程学院	2	19	2.0	2.0