上电绝缘系统少胶VPI线圈电老化试验研究

• 作者: 田建辉 陆芸
• 来源期刊: 上海大中型电机
• 学科: 工学
• 关键词: 少胶VPI 电老化 绝缘结构
• 年，卷（期）: 2003,（1）
• 所属期刊栏目: 绝缘技术
• 页码范围: 29-32
• 页数: 4页
• 分类号: TM3
• 字数: 2908字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-1811.2003.01.008

摘要

本文主要介绍了中型高压电机线圈的电老化试验方法,对上海电机厂有限公司的少胶VPI系统的常规电老化性能做出评价.通过电老化的试验,验证了tanδ及△tanδ和老化性能的关系.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陆芸		3	21	2.0	3.0
2	田建辉		5	13	2.0	3.0