用于X射线衍射测量的静高压装置及发展趋势

• 作者: 唐敬友 毕延
• 来源期刊: 爆轰波与冲击波
• 学科: 物理学
• 关键词: 静高压装置 X射线衍射 材料物性 物态方程 光子能量
• 年，卷（期）: gnlmdwl_2003,（1）
• 页码范围: 26-31
• 页数: 6页
• 分类号: O434.1

摘要

侧重介绍了国外静高压装置的发展和在各种装置上进行X射线衍射测量的方法，以及用各种X射线衍射装置测量材料物性参数的优缺点。各种装置中，X光源由普通的X射线管，单色X光源发展到同步辐射光源，而光子能量从数十keV到几GeV；高压下材料物性的X射线衍射测量经历了底片记录，光子计数器到自动化的原位光强测量的发展过程，测量时间从几减少到几分钟。这些实验装置和测量技术可以实现从1GPa到数百GPa压力范围，并适合于各种材料的高温高压物性和状态方程研究，它们在材料科学，地球科学等研究领域中有广阔的应用前景。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	毕延	中国工程物理研究院流体物理研究所102室	23	36	3.0	5.0
2	唐敬友	中国工程物理研究院流体物理研究所102室	12	34	4.0	4.0