Kevex SIGMA^TM定性X—Ray显微分析工具SDP及其应用

• 作者: 孔明光
• 来源期刊: 电脑应用技术
• 学科: 工学
• 关键词: 电子光学仪器 KevexSIGMA^TM 定性X-Ray显微分析工具 SDP
• 年，卷（期）: dnyyjs_2003,（56）
• 页码范围: 33-36
• 页数: 4页
• 分类号: TN16

摘要

本文介绍了X—Ray能谱定性分析的原理，并结合Kevex SIGMA系统，详细介绍了定性X—Ray显微分析工具SDP及其应用。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孔明光	中国科学院固体物理所	14	63	5.0	7.0