钼蓝光度法测定高纯氧化铋中微量硅

• 作者: 高颖剑
• 来源期刊: 矿冶
• 学科: 化学
• 关键词: 高纯氧化铋 二氧化硅 氢溴酸 钼蓝 分光光度法
• 年，卷（期）: 2003,（1）
• 所属期刊栏目: 分析检测技术与仪器
• 页码范围: 93-95
• 页数: 3页
• 分类号: O657.32
• 字数: 1572字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-7854.2003.01.025

摘要

采用氢溴酸直接分解高纯氧化铋试样,并使铋生成易挥发的溴化铋除去,从而消除了铋对测定硅的干扰,硅以钼蓝光度法测定.其最大吸收波长为810nm,表观摩尔吸光系数为2.12×104L*mol-1*cm-1,二氧化硅在0～60μg/50mL范围内符合比耳定律.该方法用于高纯氧化铋中微量硅的测定,获得满意结果,适用于高纯氧化铋中0.001%～0.01% SiO2的测定,其RSD为1.50%～6.94%、回收率为96.00%～105.10%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高颖剑		5	37	3.0	5.0