浮充型阀控铅酸蓄电池失效模式探讨

• 作者: 刘玉辉 孙玉生 王学志 舒达
• 来源期刊: 电池工业
• 学科: 工学
• 关键词: 阀控铅酸蓄电池 失效模式 失效机理
• 年，卷（期）: 2003,（2）
• 所属期刊栏目: 技术交流
• 页码范围: 56-59
• 页数: 4页
• 分类号: TM912.1
• 字数: 2698字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-7923.2003.02.003

摘要

分析了浮充型阀控铅酸蓄电池(VRLAB)的失效原因以及相应的解决办法;认为,正极板栅的腐蚀与生长,负极活性物质的板结收缩和孔率降低以及负极有机膨胀剂的降解和损失、极耳和汇流排的腐蚀等因素是导致浮充型VRLAB失效的主要原因.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙玉生		5	20	3.0	4.0
2	刘玉辉		1	7	1.0	1.0
3	舒达		1	7	1.0	1.0
4	王学志		2	12	2.0	2.0