W-Cu触头材料的电寿命研究

• 作者: 丁秉均 陈文革
• 来源期刊: 电工材料
• 关键词: W-Cu合金 触头材料 电弧烧损 电寿命
• 年，卷（期）: 2003,（3）
• 所属期刊栏目: 研究与分析
• 页码范围: 21-24
• 页数: 4页
• 分类号: TM201.44
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-8887.2003.03.004

摘要

研究了W-Cu系列触头材料的电弧烧损规律.触头材料的电弧烧损随开断次数的变化分为老炼、稳定和失效三个阶段,其中稳定阶段的长短是影响电寿命的决定性因素.还发现触头材料的电弧烧损主要是触点在断开和闭合的过程中,产生电弧或其它放电现象的热效应所造成的.材料的比热容、密度、熔点和电导率决定触头的电寿命.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈文革	西安理工大学材料科学与工程学院	123	1275	17.0	30.0
5	丁秉均	西安交通大学材料科学与工程学院	10	247	9.0	10.0