光调制直接重写磁光多层膜测试方法研究

• 作者: 李佐宜 李震 杨晓非 林更琪 王浩敏 谭立国
• 来源期刊: 信息记录材料
• 学科: 工学
• 关键词: 测试方法 光调制直接重写 磁光多层膜
• 年，卷（期）: 2003,（1）
• 所属期刊栏目: 测量与分析
• 页码范围: 45-49
• 页数: 5页
• 分类号: TP333.4
• 字数: 3727字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-5624.2003.01.011

摘要

为了测试光调制直接重写磁光多层膜的磁光性能,试制了磁光多层膜光调制直接重写特性测试系统.磁光信号检测采用改进差动式检测,检测方式仅与磁光克尔角大小有关,可以用来作样品的克尔角指示.同时,该检测方式由于不受激光功率和盘片反射率变化的影响,对光电探测器的温漂特性也有良好抑制作用,更适合静态实验的需求,可以较好地测试光调制直接重写磁光多层膜的磁光性能.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李震	华中科技大学电子科学与技术系	139	769	14.0	21.0
2	杨晓非	华中科技大学电子科学与技术系	69	652	12.0	24.0
3	王浩敏	华中科技大学电子科学与技术系	10	48	3.0	6.0
4	林更琪	华中科技大学电子科学与技术系	26	85	4.0	7.0
5	李佐宜	华中科技大学电子科学与技术系	59	267	7.0	13.0
6	谭立国	华中科技大学电子科学与技术系	2	0	0.0	0.0