X荧光光谱法测定烧结矿中SiO2等7个成分的含量

• 作者: 侯金红 刘磊 高良豪
• 来源期刊: 光谱实验室
• 学科: 化学
• 关键词: X荧光光谱法 粉末压片 烧结矿
• 年，卷（期）: 2003,（4）
• 页码范围: 601-604
• 页数: 4页
• 分类号: O657.34
• 字数: 1090字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-8138.2003.04.037

摘要

本文采用粉末压片法制样,X荧光光谱法分析烧结矿中的TFe、SiO2、CaO、S、MgO、Al2O3、P,建立的校准曲线线性较好,测定结果令人满意.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高良豪	济南钢铁集团总公司技术监督处	11	29	3.0	4.0
2	侯金红	济南钢铁集团总公司技术监督处	8	7	1.0	2.0
3	刘磊	济南钢铁集团总公司技术监督处	5	9	2.0	2.0