环形压敏电阻参数测试仪的研究

• 作者: 房德君
• 来源期刊: 仪表技术
• 学科: 工学
• 关键词: 压敏电阻 测试 单片机
• 年，卷（期）: 2003,（3）
• 页码范围: 27-28
• 页数: 2页
• 分类号: TH7
• 字数: 1022字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-2394.2003.03.011

摘要

提出了一种新型的环形压敏电阻参数测试仪,详细介绍了它的整体结构,测量原理和硬件电路.试运行表明,该测试仪的检测精度较高,性能稳定,很好地解决了环形压敏电阻参数检测困难的技术问题.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	房德君	山东理工大学电气工程学院	11	31	4.0	5.0