温梯法白宝石晶体的缺陷研究

• 作者: 司继良 周国清 周圣明 徐军 李抒智 董永军
• 来源期刊: 人工晶体学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 白宝石 温梯法 位错 化学腐蚀 包裹物
• 年，卷（期）: 2003,（5）
• 页码范围: 491-494
• 页数: 4页
• 分类号: O771
• 字数: 2177字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-985X.2003.05.018

摘要

采用导向温梯法(TGT)生长出[0001]方向直径为76mm的白宝石晶体.利用扫描电子显微镜(SEM)观察晶体(0001)面的腐蚀坑形态,并对晶体内部的包裹物进行了能谱(EDS)分析.白宝石晶体中的生长缺陷主要为位错和包裹体等.Al2O3晶体(0001)面的位错腐蚀坑呈六角形,并且有台阶状结构.分析了(0001)面内的位错类型.确定了TGT法生长的白宝石内部的包裹物的主要成分为碳.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐军	中国科学院上海光学精密机械研究所	290	2418	22.0	34.0
2	董永军	中国科学院上海光学精密机械研究所	21	226	10.0	14.0
3	周国清	中国科学院上海光学精密机械研究所	48	336	11.0	15.0
4	周圣明	中国科学院上海光学精密机械研究所	48	298	9.0	16.0
5	李抒智	中国科学院上海光学精密机械研究所	16	113	6.0	10.0
6	司继良	中国科学院上海光学精密机械研究所	12	21	3.0	4.0