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摘要:
提出一种测量半导体激光器芯片频率响应的方法并建立了一套测试系统,通过校准完全剔除了夹具的影响.该方法简单、精确、实用性强.在理论上,该测试系统的测量范围只由测量仪器所决定.在实验中,测量了带宽为7.5GHz和10GHz的芯片,并与其他方法的测量结果进行了比较,表明该方法测量精度达到实用的要求,同时具有简单、易于操作的优点.
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文献信息
篇名 半导体激光器芯片3dB带宽的测量
来源期刊 半导体学报 学科 工学
关键词 带宽测量 校准 频率响应 半导体激光器芯片
年,卷(期) 2003,(8) 所属期刊栏目 研究快报
研究方向 页码范围 794-797
页数 4页 分类号 TN015
字数 1271字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0253-4177.2003.08.003
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王子宇 北京大学电子工程系 18 65 5.0 7.0
2 王圩 中国科学院半导体研究所 47 124 6.0 7.0
3 徐遥 中国科学院半导体研究所 4 6 1.0 2.0
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研究主题发展历程
节点文献
带宽测量
校准
频率响应
半导体激光器芯片
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体学报(英文版)
月刊
1674-4926
11-5781/TN
大16开
北京912信箱
2-184
1980
eng
出版文献量(篇)
6983
总下载数(次)
8
总被引数(次)
35317
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