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摘要:
从沟槽绝缘栅双极晶体管(TIGBT)的物理结构出发,提出了TIGBT的稳态模型和瞬态模型.该模型不仅考虑了槽底电子积累层引起的基区电导调制作用增强效应,而且还考虑到缓冲层对器件性能的影响.通过与器件模拟结果的比较,表明该模型能准确地描述TIGBT稳态和瞬态时的物理特性.
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文献信息
篇名 TIGBT的稳态和瞬态模型
来源期刊 半导体学报 学科 工学
关键词 TIGBT 稳态模型 瞬态模型 缓冲层 积累层
年,卷(期) 2003,(7) 所属期刊栏目 研究论文
研究方向 页码范围 743-747
页数 5页 分类号 TN386
字数 3135字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0253-4177.2003.07.013
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 张莉 清华大学微电子学研究所 36 242 8.0 15.0
2 田立林 清华大学微电子学研究所 31 116 6.0 8.0
3 鲁耀华 清华大学微电子学研究所 2 3 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
TIGBT
稳态模型
瞬态模型
缓冲层
积累层
研究起点
研究来源
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期刊影响力
半导体学报(英文版)
月刊
1674-4926
11-5781/TN
大16开
北京912信箱
2-184
1980
eng
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