Na2O的含量对MoSi2/Oxide系发热元件材料力学性能的影响

• 作者: 江莞 王刚 赵世柯
• 来源期刊: 无机材料学报
• 学科: 工学
• 关键词: 二硅化钼发热元件 Na2O 韦伯分布 蠕变特性 BDTT
• 年，卷（期）: 2003,（1）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 103-108
• 页数: 6页
• 分类号: TQ174
• 字数: 3174字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-324X.2003.01.016

摘要

对比了脱Na处理工艺前后Na2O含量变化对MoSi2/Oxide系发热元件材料力学性能的影响.研究结果表明,虽然Na2O含量的高低对发热体材料常温力学性能影响不大,但是对发热元件材料高温力学性能有重要影响.主要表现在:经1573K热处理100h后脱Na材料仍拥有很高的强度和韦伯分布;而且经过真空脱Na后材料的高温蠕变特性也有了明显改善,在1243和1303K的条件下脱Na材料的蠕变速率分别是未脱Na材料的2/5和1/3以下.另外,Na2O含量对材料延性脆性转变温度(BDTT)也有重要影响,脱Na材料的BDTT较未脱Na材料升高约100K.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王刚	中国科学院上海硅酸盐研究所高性能陶瓷和超微结构国家重点实验室	164	1405	19.0	32.0
2	赵世柯	清华大学材料科学与工程系	12	113	6.0	10.0
3	江莞	中国科学院上海硅酸盐研究所高性能陶瓷和超微结构国家重点实验室	37	301	9.0	15.0