微测辐射热计焦平面阵列CMOS读出技术研究

• 作者: 沈晓燕
• 来源期刊: 光电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 测辐射热计 红外焦平面 集成读出电路
• 年，卷（期）: 2003,（1）
• 所属期刊栏目: 研究与试制
• 页码范围: 27-29,34
• 页数: 4页
• 分类号: TN432|TN215
• 字数: 2393字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-488X.2003.01.006

摘要

非致冷微测辐射热计探测器以其低价格、高可靠性和高性能成为热像仪的首选.制作在硅衬底中的读出电路的设计直接影响到整个系统的性能.按读出方式来分,测辐射热计集成读出电路(ROIC)可分为顺序存取读出电路和随机存取读出电路[1],本文介绍了测辐射热计读出电路的设计原理.分别对两种读出方式作了分析,重点研究了顺序存取读出电路中的移位寄存器,提出了解决延迟的切实可行的方案.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	沈晓燕	南通师范学院物理系	8	119	4.0	8.0