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摘要:
样品的DPA结论为不合格时,样品母体能否使用?正确解决这个问题可使DPA工作为系统可靠性提高发挥更大作用的同时,取得更好的效费比,并为解决好这个问题,进行了认真研究和分析,并辅助以实验.
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文献信息
篇名 研究和处理DPA不合格的母体
来源期刊 半导体技术 学科 工学
关键词 破坏性物理分析 样品不合格 母体的处理
年,卷(期) 2003,(9) 所属期刊栏目 支撑技术
研究方向 页码范围 60-62
页数 3页 分类号 TN406
字数 3446字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1003-353X.2003.09.017
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 赵和义 5 17 3.0 4.0
2 郑鹏洲 3 7 1.0 2.0
传播情况
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引文网络
引文网络
二级参考文献  (0)
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参考文献  (0)
节点文献
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2003(0)
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研究主题发展历程
节点文献
破坏性物理分析
样品不合格
母体的处理
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体技术
月刊
1003-353X
13-1109/TN
大16开
石家庄179信箱46分箱
18-65
1976
chi
出版文献量(篇)
5044
总下载数(次)
38
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