铜箔绕组损耗的分析

• 作者: 韦东
• 来源期刊: 电子变压器技术
• 学科: 工学
• 关键词: 铜箔绕组 二维边缘效应 ac损耗 有限单元分析法 功率转换器
• 年，卷（期）: 2003,（4）
• 页码范围: 29-40
• 页数: 12页
• 分类号: TM42

摘要

本文给出了一个简单的方法，用于估算包括二维（2-D）边缘效应在内的磁性绕组的ac损耗。虽然已提出一维（1-D）分析法用于估算导线绕组的绕组损耗，但是，因2-D边缘效应而引起的附加ac损耗非常显著，而不能用已提出的1-D方法预测。本文提出的方法是，基于引用一组1-D分析结果的校正系数来说明2-D边缘效应。本文还将用有限单元分析法（FEA's）验证所获得的结果。