受孔洞、缝隙泄漏影响的屏蔽技术

• 作者: 徐岩 赵明仁
• 来源期刊: 电讯工程
• 学科: 工学
• 关键词: 屏蔽体 孔洞 缝隙泄漏 屏蔽效果 结构设计 电子设备
• 年，卷（期）: 2003,（3）
• 页码范围: 1-4
• 页数: 4页
• 分类号: TN03

摘要

理想的屏蔽体是一个无缝隙、无孔洞、无透入的金属封闭体。孔洞、缝隙的泄漏是影响屏蔽效果的主要原因，因此，电子设备结构设计的型式将直接影响屏蔽效能。产品设计初期的结构型式就显得尤为重要。