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摘要:
在n+-GaAs(n=1×1018cm-3)衬底上,用MOCVD方法制备了610 nm的AlGaInP发光二极管的外延片,用X射线双晶衍射和PL谱表征了ALGaInP外延片样品的性质,通过对减薄到不同厚度的LED外延片的管芯在相同条件下的退化实验,发现了亮度的退化随厚度的减小而减小的结果.由理论计算结果可以得到,衬底厚度的降低对于LED样品稳定性产生作用的主要因素是由于产生的耗散热的减小而使缺陷增殖速度减小和非辐射复合中心浓度的相应降低,同时衬底厚度的降低也有助于提高A1GaInP LED的器件的稳定性.
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文献信息
篇名 GaAs衬底厚度对发光二极管稳定性的影响
来源期刊 量子电子学报 学科 工学
关键词 稳定性 发光二极管 厚度
年,卷(期) 2003,(1) 所属期刊栏目 简讯
研究方向 页码范围 125-128
页数 4页 分类号 TN312.8
字数 2532字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1007-5461.2003.01.025
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稳定性
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量子电子学报
双月刊
1007-5461
34-1163/TN
大16开
安徽省合肥市1125邮政信箱
26-89
1984
chi
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