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摘要:
提出了应用扫描隧道显微镜(STM)纳米云纹法测量面内位移的原理.测量中,把扫描隧道显微镜的探针扫描线作为参考栅,把物质原子晶格栅结构作为试件栅,对这两组栅线干涉形成的云纹进行了纳米级变形测量.对扫描隧道显微镜纳米云纹的形成原理及测量方法进行了详尽的讨论,并运用该方法对高定向裂解石墨(HOPG)的纳米级变形虚应变进行了测量研究,得到了随扫描范围变化的虚应变场,并与理论值进行了比较.
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文献信息
篇名 扫描隧道显微镜纳米云纹法的实验研究
来源期刊 光学技术 学科 工学
关键词 扫描隧道显微镜 纳米云纹 纳米测量 晶体光栅
年,卷(期) 2003,(2) 所属期刊栏目 光学测量
研究方向 页码范围 179-182
页数 4页 分类号 TH742.5|O436
字数 2889字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:1002-1582.2003.02.003
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研究主题发展历程
节点文献
扫描隧道显微镜
纳米云纹
纳米测量
晶体光栅
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
光学技术
双月刊
1002-1582
11-1879/O4
大16开
北京市海淀区中关村南大街5号
2-830
1975
chi
出版文献量(篇)
4591
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6
总被引数(次)
42622
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