基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取       
摘要:
提出了一种新的PMMA/PMGI/PMMA三层胶复合结构,通过一次对准和电子束曝光、多次显影在InP PHEMT材料上制作出高成品率的T型纳米栅.在曝光显影条件变化20%的情况下,InP HEMT成品率达到80%以上;跨导变化范围在590~610mS/mm,夹断电压为-1.0~-1.2V,器件的栅长分布均匀.这种新的结构工艺步骤少,工艺宽容度大,重复性好,大大提高了纳米栅器件的成品率.
推荐文章
IC优化设计及其成品率预测
成品率
效益
优化设计
蒙特卡罗分析
性能综合指数
椭圆缺陷轮廓的成品率估计
真实缺陷
椭圆缺陷模型
关键面积
成品率模型
矩形缺陷轮廓的成品率模型
真实缺陷
矩形缺陷模型
关键面积
成品率模型
一种有效的IC成品率估算模型
功能成品率
缺陷
故障率
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 一种新的高成品率InP基T型纳米栅制作方法
来源期刊 半导体学报 学科 工学
关键词 PMMA/PMGI/PMMA三层胶复合结构 InP PHEMT 电子束曝光 T型纳米栅
年,卷(期) 2003,(4) 所属期刊栏目 研究论文
研究方向 页码范围 411-415
页数 5页 分类号 TN386
字数 2272字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0253-4177.2003.04.016
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 刘明 中国科学院微电子中心 207 1983 20.0 38.0
2 张海英 中国科学院微电子中心 114 574 11.0 17.0
3 陈宝钦 中国科学院微电子中心 50 361 11.0 16.0
4 刘训春 中国科学院微电子中心 43 222 9.0 11.0
5 石华芬 中国科学院微电子中心 4 36 4.0 4.0
9 王云翔 中国科学院微电子中心 8 36 5.0 5.0
传播情况
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献  (0)
共引文献  (5)
参考文献  (5)
节点文献
引证文献  (6)
同被引文献  (4)
二级引证文献  (12)
1980(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
1985(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
1992(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
1995(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2001(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2003(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(0)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(0)
2003(1)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(0)
2004(1)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(0)
2005(3)
  • 引证文献(3)
  • 二级引证文献(0)
2006(1)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(1)
2007(2)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(2)
2008(2)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(2)
2009(1)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(1)
2012(1)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(1)
2014(1)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(1)
2015(1)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(0)
2016(1)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(1)
2019(3)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(3)
研究主题发展历程
节点文献
PMMA/PMGI/PMMA三层胶复合结构
InP PHEMT
电子束曝光
T型纳米栅
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体学报(英文版)
月刊
1674-4926
11-5781/TN
大16开
北京912信箱
2-184
1980
eng
出版文献量(篇)
6983
总下载数(次)
8
总被引数(次)
35317
相关基金
国家重点基础研究发展计划(973计划)
英文译名:National Basic Research Program of China
官方网址:http://www.973.gov.cn/
项目类型:
学科类型:农业
  • 期刊分类
  • 期刊(年)
  • 期刊(期)
  • 期刊推荐
论文1v1指导