TEM纳米云纹法测量纳米碳管变形

• 作者: 刘战伟 吴德海 尚海霞 戴福隆 朱宏伟 谢惠民
• 来源期刊: 光学技术
• 学科: 工学
• 关键词: TEM 纳米云纹法 单壁碳纳米管束 径向力学性能 残余变形
• 年，卷（期）: 2003,（5）
• 所属期刊栏目: 光学测量
• 页码范围: 515-517
• 页数: 3页
• 分类号: TP348.12
• 字数: 1570字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1002-1582.2003.05.004

摘要

提出了透射电子显微镜(TEM)纳米云纹法的新技术, 首次将该方法用于单根单壁碳纳米管的残余变形测量.纳米云纹由计算机显示器扫描线与碳纳米管束TEM图像干涉而成.该方法具有纳米级空间分辨率,可直接测量碳纳米管的力学性能.对TEM纳米云纹法的原理进行了详细的阐述,并利用不同管径的单壁碳管束产生了云纹.对直径为7.5nm的弯曲碳管束的残余变形进行测量,直接得到了其中一根直径为1.0nm的单壁碳管的残余变形场.实验结果证明了该方法的可行性.该方法为纳米尺度的碳管力学性能测量提供了新途径.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	戴福隆	清华大学工程力学系	70	817	11.0	27.0
2	吴德海	清华大学机械工程系	17	151	8.0	12.0
3	谢惠民	清华大学工程力学系	59	1120	14.0	32.0
4	刘战伟	清华大学工程力学系	12	78	5.0	8.0
5	尚海霞	清华大学工程力学系	9	75	5.0	8.0
6	朱宏伟	清华大学机械工程系	15	200	7.0	14.0