GIS中绝缘子与电极接触不良时闪络特性的分析

• 作者: 张乔根 汪沨 邱毓昌
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: 绝缘子 表面电荷积聚 闪络
• 年，卷（期）: 2003,（1）
• 所属期刊栏目: 测试分析
• 页码范围: 45-47
• 页数: 3页
• 分类号: TM561.3|TM216
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-9239.2003.01.013

摘要

将GIS中绝缘子与电极之间接触不良问题归结为两个简化的模型,根据绝缘子与电极接触不良处绝缘子表面动态电荷分布的近似表达式,及试验研究结果对绝缘子与电极接触不良时冲击击穿异常的现象进行了解释.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邱毓昌	西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室	228	4719	36.0	54.0
2	张乔根	西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室	156	1936	24.0	35.0
3	汪沨	西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室	20	479	13.0	20.0