ICP—AES法测定二氧化硅中的微量杂质元素

• 作者: 虞建平 谭明霞 颜料
• 来源期刊: 硅铝化合物
• 学科: 工学
• 关键词: ICP—AES法 测定 二氧化硅 微量杂质元素
• 年，卷（期）: 2003,（2）
• 页码范围: 32-34
• 页数: 3页
• 分类号: TQ127.2

摘要

试样经硫酸一氢氟酸分解，在盐酸介中用ICP—AES法测二氧化硅中的微量杂质元素．该方法与原子吸收法(AA)和分光光度法相比更为优越，其化学干扰少，操作简便，快速，重显性好，准确度高。测定结果的相对标准偏差(RSD)小于5％。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	颜料		2	0	0.0	0.0
2	虞建平		2	0	0.0	0.0
3	谭明霞		2	0	0.0	0.0