X射线荧光痕量元素分析的测定限问题

• 作者: 吴晓军 梁国立 甘露 邓赛文
• 来源期刊: 物理测试
• 学科: 工学
• 关键词: X射线荧光 检出限 相对标准偏差
• 年，卷（期）: 2003,（6）
• 所属期刊栏目: 试验研究
• 页码范围: 4-7,10
• 页数: 5页
• 分类号: TN2
• 字数: 3133字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-0777.2003.06.002

摘要

就有关X射线荧光低含量元素分析的检出限问题进行了多方面的探讨.从检出限的定义及其定义下的相对标准偏差到各种不同测量、校准与校正方法的检出限及其相对应的相对标准偏差进行计算.提出了以定义检出限的相对标准偏差为基准,对各种测量方法计算出的检出限进行重新界定,从而确认一个具有可比性的、精度一致的检出限.同时还讨论了仪器与X光管固有杂质元素谱线对该元素检出限的影响;测量仪器、测量条件与测量时间对检出限的影响;不同种类试样对检出限的影响;检出限与测定限等问题.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	甘露		24	167	7.0	12.0
2	吴晓军		20	150	7.0	11.0
3	邓赛文		34	181	7.0	12.0
4	梁国立		18	170	6.0	13.0