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摘要:
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热障涂层金属元素扩散阻挡层研究进展
扩散阻挡层
热障涂层
界面
扩散
面向先进电子封装的扩散阻挡 层的研究进展
先进封装
金属间化合物
凸点下金属层
扩散阻挡性能
失效机制
氢化锆表面电镀Cr-C氢渗透阻挡层分析
电镀
氢化锆表面
Cr-C氢渗透阻挡层
基于ALD Al2O3新型反熔丝器件的可靠性研究
金属-绝缘体-金属反熔丝
原子层沉积
开关比
时变击穿特性
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
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文献信息
篇名 在双镶嵌铜互联中O.13微米器件生成用的基于PVD和ALD阻挡层的先进技术
来源期刊 半导体技术 学科 工学
关键词
年,卷(期) 2003,(4) 所属期刊栏目 专题报道(芯片生产工艺技术)
研究方向 页码范围 42-46
页数 5页 分类号 TN3
字数 语种 中文
DOI
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传播情况
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2003(0)
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体技术
月刊
1003-353X
13-1109/TN
大16开
石家庄179信箱46分箱
18-65
1976
chi
出版文献量(篇)
5044
总下载数(次)
38
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24788
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