可靠性筛选及接触元件多余物控制技术

• 作者: 蔡懿
• 来源期刊: 机电元件
• 学科: 工学
• 关键词: 接触元件 多余物 控制技术
• 年，卷（期）: 2003,（1）
• 所属期刊栏目: 试验与检测
• 页码范围: 44-50
• 页数: 7页
• 分类号: TM506
• 字数: 6271字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-6133.2003.01.010

摘要

文章通过简述产品质量问题的重要性及多余物的危害性,引出了目前我国对电子元器件可靠性筛选、接触元件内部多余物检测鉴别和破坏性物理分析等检测方法,总结了接触元件设计和制造过程多余物的预防和控制技术.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蔡懿		2	12	2.0	2.0