CD-R光盘常规检测参数和质量控制

• 作者: 陈垦
• 来源期刊: 记录媒体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 检测参数 CD-R 光学头 盘片 伺服机构 中心孔 几何中心 质量控制 双折射率 倍速
• 年，卷（期）: 2003,（2）
• 页码范围: 34-37
• 页数: 4页
• 分类号: TQ596

摘要

【正】 《可记录光盘(CD-R)常规检测参数》(CY/T 38-2001)已于2001年8月由中华人民共和国新闻出版总署批准、公布,并于2002年1月开始实施。本文试图对CD-R光盘的这些常规检测参数的物理意义、对盘片质量的影响、该参数的工艺调整和检测方法等作一阐述,希望对可记录光盘复制企业的质量控制有所帮助。1,偏心 ECC(Eccentricity): 偏心是盘片中心孔的几何中心相对盘片信息道/预刻槽的几何中心的偏差。单位一般用μm表示。在驱动器中光学头读取信息时,轨道跟踪伺服机构使光学头在半径方向快速移动,跟随轨道读出信息。径向跟踪伺服机构的跟踪能力和频率响应有一定的范围,光学头的惰性又会限制伺服机构的反应速度,偏心

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈垦	清华大学光盘国家工程研究中心	9	6	2.0	2.0