MLVDS标准介绍及德州仪器SN65MLVD200系列

• 作者: 杨毅
• 来源期刊: 今日电子
• 学科: 工学
• 关键词: LVDS MLVDS Multi-Drop Multipoint TIA/EIA EMI Fail Safe
• 年，卷（期）: 2003,（9）
• 所属期刊栏目: 技术与市场
• 页码范围: 53-55
• 页数: 3页
• 分类号: TP3
• 字数: 3616字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-9606.2003.09.023

摘要

本文对MLVDS标准(ANSI/TIA/EIA-899)及其技术规格,以及由德州仪器的MLVDS器件SN65MLDS200系列进行了详细介绍.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨毅		1	0	0.0	0.0