电子元器件的选用和老化方法的讨论

• 作者: 王书林 胡俊达
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: 筛选 老化试验 可靠性
• 年，卷（期）: 2003,（11）
• 所属期刊栏目: 可靠性与分析
• 页码范围: 49-50,58
• 页数: 3页
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2003.11.024

摘要

在研制和设计新的电子产品和设备时,为了保证质量,必须对电子产品(设备)所采用的元器件进行认真的选择和筛选,本文对如何选用电子元器件的原则和老化试验方法进行了讨论和介绍.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	胡俊达		55	425	11.0	18.0
2	王书林		8	45	5.0	6.0