用面阵CCD高精度测量微光光场均匀性

• 作者: 刘炳琦 赵熙林 韩彦中
• 来源期刊: 中国测试技术
• 学科: 工学
• 关键词: 面阵CCD 光场均匀性 高精度测量 软件矫正补偿
• 年，卷（期）: 2003,（2）
• 所属期刊栏目: 测试技术
• 页码范围: 20-21
• 页数: 2页
• 分类号: TN386.5|TP3
• 字数: 1422字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-5124.2003.02.008

摘要

利用高分辨率面阵CCD,提出一种新的测量微光光场均匀性的方法,同时对影响系统精度的因素进行了分析,并通过计算机处理软件给出矫正补偿措施,使面阵CCD高精度测量技术成功地用于实践.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	韩彦中		4	25	3.0	4.0
2	赵熙林		4	98	4.0	4.0
3	刘炳琦		1	7	1.0	1.0