谈微晶玻璃残余应力的测量方法

• 作者: 楼贤春 程金树 谢俊 郑伟宏
• 来源期刊: 玻璃
• 学科: 工学
• 关键词: 微晶玻璃 残余应力 X射线衍射 中子衍射
• 年，卷（期）: 2003,（6）
• 所属期刊栏目: 综论与探讨
• 页码范围: 21-23
• 页数: 3页
• 分类号: TQ17
• 字数: 2679字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-1987.2003.06.006

摘要

分析了微晶玻璃中残余应力的形成机理及表现特点,并对几种常用测定残余应力的方法进行了比较.提出了用X射线衍射法和中子衍射方法组合运用并结合其他非破坏性测量方法来测定微晶玻璃残余应力.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	程金树	武汉理工大学硅酸盐材料工程教育部重点实验室	168	1213	19.0	25.0
2	谢俊	武汉理工大学硅酸盐材料工程教育部重点实验室	41	139	7.0	9.0
3	楼贤春	武汉理工大学硅酸盐材料工程教育部重点实验室	20	197	9.0	14.0
4	郑伟宏	武汉理工大学硅酸盐材料工程教育部重点实验室	32	188	9.0	12.0