IEEE 1149.1标准与边界扫描技术

• 作者: 于宗光
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: IC 可测性 边界扫描 内建自测试 系统集成
• 年，卷（期）: 2003,（5）
• 所属期刊栏目: 器件与制造
• 页码范围: 40-47
• 页数: 8页
• 分类号: TN43
• 字数: 6816字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1681-1070.2003.05.012

摘要

本文首先分析了集成电路可测性设计的必要性,接着介绍了边界扫描的基本结构、IEEE1149.1标准及指令寄存器、数据寄存器,分析了边界扫描的工作过程,介绍了基本的扫描寄存器结构,最后给出了系统集成可测性设计的策略.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	于宗光		140	722	12.0	22.0