干涉法测量晶体的折射率

• 作者: 吴福全 孔伟金 郝殿中
• 来源期刊: 激光技术
• 学科: 物理学
• 关键词: 折射率 干涉 CCD 晶体
• 年，卷（期）: 2003,（5）
• 所属期刊栏目: 测量与防护
• 页码范围: 407-408
• 页数: 2页
• 分类号: O432.2
• 字数: 944字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-3806.2003.05.025

摘要

基于迈克尔逊干涉仪的原理,提出了一种测量晶体折射率的理论及实验方法;在旋转角度不大的情况下,推导出了理论计算公式.利用CCD传感器和微处理器的结合建立了一套测试系统,该系统利用条纹评估软件提高了测试精度.