LD老化筛选及寿命测试系统

• 作者: 亢俊健 王大成 苏美开
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 激光二极管 老化筛选 寿命测试
• 年，卷（期）: 2003,（4）
• 所属期刊栏目: 自动化测试
• 页码范围: 250-253
• 页数: 4页
• 分类号: TP249
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1671-4598.2003.04.004

摘要

介绍了半导体激光二极管(LD)老化及寿命测试的理论依据,给出了寿命测试的数学模型,并据此研制了新型LD老化筛选及寿命测试系统,该系统在密封抽真空充氮环境下,通过采集恒流工作LD的平均输出光功率随时间变化的信息及所处环境的温度,绘制LD的老化曲线,即恒流条件下的"P-t曲线",然后推断LD的使用寿命.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	苏美开	北京理工大学机电工程学院	17	133	6.0	11.0
3	亢俊健	中国矿业大学机电与信息工程学院	9	125	6.0	9.0
5	王大成	中国地质大学地球物理与信息技术学院	3	42	3.0	3.0