PI网络晶体测试仪测试晶体频率的测量不确定度分析

• 作者: 王勇
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: PI网络 晶体 不确定度
• 年，卷（期）: 2003,（1）
• 所属期刊栏目: 测试技术与应用
• 页码范围: 15,23
• 页数: 2页
• 分类号: TN8
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2003.01.003

摘要

目前国内石英晶体谐振器的测试仪器主要分为阻抗型的晶体测试仪(如:广州电子仪器厂的CZ-8A型晶体阻抗计)和PI网络测试系统(如:美国SAUNDERS公司的250A晶体测试仪)两大类,其中阻抗型的晶体测试仪的测量准确度低、测试范围窄、测试项目少.而PI网络测试系统无论从准确度和测试项目上都要比阻抗型的晶体测试仪好的多,所以PI网络测试系统将起着越来越重要的作用;晶体的谐振频率作为晶体的关键参数,它的测试不确定度也越来越引起人们的重视,本文将对PI网络测试系统的代表产品美国SAUNDERS公司的250A晶体测试仪测试晶体频率的不确定度进行分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王勇		4	1	1.0	1.0