在厚靶分析中外标法的表面形状校正

• 作者: 孙大泽 梁宝鎏
• 来源期刊: 岩矿测试
• 学科: 化学
• 关键词: 厚靶 外标膜 特征峰 校正系数
• 年，卷（期）: 2003,（1）
• 所属期刊栏目: 研究报告与简报
• 页码范围: 10-14
• 页数: 5页
• 分类号: O657.34
• 字数: 2895字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0254-5357.2003.01.003

摘要

在厚靶的非破坏性X射线荧光分析中,以钇做外标元素,研究了不同样品形状及与源、探测器距离不同时,引起接收到元素荧光强度差异的校正方法.给出了对不同形状瓷片中元素特征峰计数校正前后的比较.探讨了此种方法带入的测量误差.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	梁宝鎏		30	164	7.0	10.0
2	孙大泽	香港城市大学香港天津市技术物理研究所	1	0	0.0	0.0