蔗秆表皮层的SEM-EDAX研究

• 作者: 张树滨 窦正远 邱玉桂 黄斌
• 来源期刊: 中国造纸学报
• 学科: 工学
• 关键词: 蔗秆表皮层 SEM-EDAX法 超微结构 除硅
• 年，卷（期）: 2003,（1）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 1-6
• 页数: 6页
• 分类号: TS71+2
• 字数: 3197字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-6842.2003.01.001

摘要

用SEM-EDAX法研究蔗秆表皮层的超微结构及元素组成.结果表明,在实验条件下,蔗秆表皮层的外表面由C、O、Mg、Al、Si、Cl 6种元素组成,Si的含量为30.464%;颗粒状物的Si含量为53.833%.蔗秆表皮层径切面中含C、O、Mg、Al、Si、K、Ca 7种元素,自外向里各种元素的含量呈规律性变化.表皮层是Si等矿质元素高度密集、超微结构非常复杂的多层结构;表皮层中的Si绝大部分在碱法制浆的低温蒸煮阶段就被溶解转移到黑液中,残留物几乎为纯C组成.蔗秆表皮层的超微结构、Si等元素的存在状态及脱除机理有待进一步研究.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邱玉桂	华南理工大学制浆造纸工程国家重点实验室植物资源研究室	51	454	13.0	17.0
2	窦正远	华南理工大学制浆造纸工程国家重点实验室植物资源研究室	20	201	10.0	14.0
3	张树滨	华南理工大学制浆造纸工程国家重点实验室植物资源研究室	5	27	3.0	5.0
4	黄斌	华南理工大学制浆造纸工程国家重点实验室植物资源研究室	10	55	3.0	7.0