原文服务方: 电子产品可靠性与环境试验       
摘要:
对系统可靠性串联、并联和n中取k可靠度区间的最小上界(LUB)和最大上界(GLB)进行了分析,这里假设系统的寿命分布是负指数型,并就系统中不同部件数目下,针对各种情况进行了详细的研究.
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文献信息
篇名 几种典型系统可靠度区间上下确界的计算
来源期刊 电子产品可靠性与环境试验 学科
关键词 可靠性 指数分布 可靠度区间估计
年,卷(期) 2003,(1) 所属期刊栏目 可靠性与环境适应性理论研究
研究方向 页码范围 43-45
页数 3页 分类号 O213.2
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1672-5468.2003.01.011
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王进才 陆军航空兵学院基础部 18 23 3.0 3.0
2 杨懿松 陆军航空兵学院基础部 5 4 2.0 2.0
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研究主题发展历程
节点文献
可靠性
指数分布
可靠度区间估计
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
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期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
双月刊
1672-5468
44-1412/TN
大16开
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
1962-01-01
中文
出版文献量(篇)
2803
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9369
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