根据过采样和求均值理论提高ADC测量分辨率

• 作者: 孙书娜 孙友伟 张洪
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: 嵌入式系统 过采样 求均值 A/D变换
• 年，卷（期）: 2003,（3）
• 页码范围: 300-303
• 页数: 4页
• 分类号: TP274
• 字数: 3245字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2003.03.016

摘要

8bit嵌入式单片机系统A/D变换的两个关键指标是有效分辨率和信噪比(SNR).通过对过采样(Over sample)和求均值(Average)理论的分析,得出"对噪声源的特性为白噪声的信号,每增加一位分辨率可以通过用4倍的过采样频率进行采样来达到.而分辨率每增加一位将使 SNR增加 6dB"的结论.进而采用8bit微处理器内嵌12bit ADC成功实现了16bit ADC的精度,即小数点后两位(25.99℃)的温度测量,和小数点后四位(2.429 9 V)的直流电压测量.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙书娜		6	43	4.0	6.0
2	孙友伟		42	245	10.0	12.0
3	张洪		1	8	1.0	1.0