ETA-RT离线光盘质量控制系统

• 来源期刊: 记录媒体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 质量控制系统 ETA-RT 算法测试 镀层厚度 盘片 料层厚度 粘接层 衍射效率 测试算法 OMEGA
• 年，卷（期）: 2003,（2）
• 页码范围: 58-58
• 页数: 1页
• 分类号: TQ596

摘要

【正】 ETA-RT是德国STEAG ETA-Optik公司开发的离线光盘质量控制系统。其主要技术特点为: 1.利用ETA专利薄膜算法测试染料层厚度、溅镀层厚度; 2.先进的n＆k测试算法;全波长380～1070nm的光密度测试; 3.精确的测量基片、粘接层、保护层厚度;ETA专利槽测试算法检测槽深、槽顶宽、槽底宽;405nm蓝光测试道间距和衍射效率; 4.ETA-Omega软件包适合所有格式盘片的快速质量测试。 ETA-RT能测试各种盘片格式,包括: