W-Cu触头材料电寿命的研究

• 作者: 丁秉均 张珂 陈文革
• 来源期刊: 粉末冶金技术
• 学科: 工学
• 关键词: W-Cu合金 触头材料 电磨损 电寿命
• 年，卷（期）: 2003,（4）
• 所属期刊栏目: 材料·制品·应用
• 页码范围: 224-227
• 页数: 4页
• 分类号: TM2
• 字数: 2316字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1001-3784.2003.04.007

摘要

电器的电寿命主要决定于触头的电磨损.通过对W-Cu系列触头材料电磨损规律的研究,认为触头材料的电磨损随开断次数的变化有老炼、稳定和失效三个阶段,其中对电寿命起决定性因素的是稳定阶段的长短.而且也发现触头材料的电磨损主要是触点在断开和闭合的过程中,产生电弧或其它放电现象的热效应所造成的.材料的比热容、密度、熔点和电导率决定触头的电寿命.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈文革	西安理工大学材料科学与工程学院	123	1275	17.0	30.0
5	丁秉均	西安交通大学材料科学与工程学院	10	247	9.0	10.0
6	张珂		7	82	5.0	7.0