高速CMOS电路的单元延时模型分析

• 作者: 严晓浪 史峥 李伟良 杨华中 王书江
• 来源期刊: 电路与系统学报
• 学科: 工学
• 关键词: 互连线电阻 延时 有效电流源模型
• 年，卷（期）: 2003,（6）
• 所属期刊栏目: 论文
• 页码范围: 15-19
• 页数: 5页
• 分类号: TN47
• 字数: 3588字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-0249.2003.06.004

摘要

由于互连线电阻引起的时序问题对IC设计带来了越来越大的影响,选取精确的模型来计算延时变得非常重要.本文结合传统延时模型的特点,对有效电流源模型(ECSM)作了改进,通过分段线性方法精确地匹配了负载激励点波形的非线性特性,有效地解决了原模型中存在的不足.经理论分析和实验验证,该模型能快速有效地求解延时,能很好地应用于超深亚微米工艺下的时序分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨华中	清华大学电子工程系	92	500	13.0	16.0
2	史峥	浙江大学超大规模集成电路设计研究所	51	176	7.0	11.0
3	严晓浪	浙江大学超大规模集成电路设计研究所	246	1634	19.0	29.0
4	李伟良	浙江大学超大规模集成电路设计研究所	3	11	2.0	3.0
5	王书江	浙江大学超大规模集成电路设计研究所	3	12	2.0	3.0