S.M.A.R.T的可靠性有多高？

• 来源期刊: 电脑自做
• 学科: 工学
• 关键词: 计算机 S.M.A.R.T 硬盘 自诊断技术 B10S 冗余校验
• 年，卷（期）: 2003,（8）
• 页码范围: 99
• 页数: 1页
• 分类号: TP333.35

摘要

S.M.A.R.T是英文Self-Monitoring，Analysis and Reporting Technology的缩写，即自检、分析和报告技术。顾名思义，这是用来对硬盘自身进行监测，并向用户提供分析结果的一项自诊断技术。自ATA-3以后，S.M.A.R.T技术已经成为IDE硬盘必备的规范。现在，无论是IDE产品还是SCSI产品，几乎所有市售硬盘都支持S.M.A.R.T功能，但要使用这个功能，必须具备相应的BIOS和专门的应用程序。