集成电路设计对成品率的影响

• 来源期刊: 集成电路应用
• 学科: 工学
• 关键词: 集成电路设计 效应 系统功能 使用寿命 点缺陷 设计规则 大批量生产 大规模集成电路 成品率 相关因素
• 年，卷（期）: 2003,（1）
• 页码范围: 65-67
• 页数: 3页
• 分类号: TN402
• 语种: 中文

摘要

1 引言大规模集成电路成为一种有用的发展中的技术所必须满足的两个条件:第一,制成的电路必须能大批量生产,成本上要能和其他实现该电路和系统功能的手段有竞争能力;第二,该电路须能在其使用寿命内执行其功能.为生产出满足上述两项要求的电路,我们就必须了解导致高成本和不可靠性的机理,而导致