用于辐照效应实验的带微处理器电路的故障测试系统

• 作者: 孙驰 毕增军 范丽思
• 来源期刊: 电测与仪表
• 学科: 工学
• 关键词: 电磁脉冲 辐照效应 带微处理器电路 故障测试
• 年，卷（期）: 2003,（2）
• 所属期刊栏目: 自动测试系统与数据采集
• 页码范围: 31-33,46
• 页数: 4页
• 分类号: TP27
• 字数: 2733字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-1390.2003.02.009

摘要

研制了一个用于对带微处理器电路进行辐照效应实验的故障测试系统,它既能自动检测出电磁脉冲(EMP)对电路的干扰,也能检测出EMP对电路的硬损伤.文中分别给出了干扰级和损伤级效应结果的测试方法,并用高功率微波脉冲对系统中的受试电路单元进行辐照效应实验,结果表明本系统能够完成各项检测功能.这为研究带微处理器电路的电磁防护措施提供了有力工具.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	范丽思	军械工程学院静电与电磁防护研究所	49	229	8.0	12.0
2	孙驰	军械工程学院静电与电磁防护研究所	8	500	5.0	8.0
3	毕增军	军械工程学院静电与电磁防护研究所	17	592	11.0	17.0