γ探头刻度辐射场光子注量测量

• 作者: 袁永刚 赵敏智 雷家荣
• 来源期刊: 中国工程物理研究院科技年报
• 学科: 工学
• 关键词: 辐射场光子注量 测量方法 γ探头 刻度标定 屏蔽效应
• 年，卷（期）: 2003,（1）
• 页码范围: 61-62
• 页数: 2页
• 分类号: TL375.7

摘要

以往对辐射场光子注量的测量过程中，同一场点，相邻两片探测元件的测量结果相差最大高达15％，且测量结果不重复；在而在标定的Y探头的有效面积内，探测元件的测量结果相差最高达50％。经认真分析，导致如此大的差异的主要原因可能是：每次布放探测元件的位置不尽相同或探测器平面与准直孔轴线不垂直，场点人射的Y射线的能量或注量梯度较大和低能散射射线的贡献较大。