不同电阻率测深方法对旁侧不均匀体的反映

• 作者: 强建科 阮百尧
• 来源期刊: 物探与化探
• 学科: 地球科学
• 关键词: 电阻率测深 旁侧不均匀体 异常区分 三维数值模拟
• 年，卷（期）: 2003,（5）
• 所属期刊栏目: 方法技术研究
• 页码范围: 379-382
• 页数: 4页
• 分类号: P631.3
• 字数: 2342字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8918.2003.05.013

摘要

利用三维有限元数值模拟,重点研究了旁侧三维不均匀体所产生的视电阻率的影响问题,展示了4种常规电阻率测深法在旁侧不均匀体上的异常分布特点;探讨了测深点正下方目标体异常与旁侧不均匀体异常的区别问题,指出旁侧不均匀体的影响是产生电阻率法假异常的主要原因之一.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	阮百尧		75	2161	25.0	44.0
2	强建科		15	318	8.0	15.0