Z-pinch实验X光辐射过程一维空间分布诊断技术

• 作者: 杨建伦
• 来源期刊: 中国工程物理研究院科技年报
• 学科: 工学
• 关键词: Z-pinch实验 X光辐射 空间分布 等离子体诊断
• 年，卷（期）: 2003,（1）
• 页码范围: 65-66
• 页数: 2页
• 分类号: TL651

摘要

在Z-piirch实验中，研制了由闪烁体薄膜、光纤阵列、条纹相机等组成的同时具有时间分辨和一维空间分辨能力的Z-pinch等离子体X光辐射过程空间分布诊断装置，诊断装置沿垂直于负载轴向的方向观测等离子体X光辐射的时空分布。利用狭缝实现X光辐射区域的一维空间分辨成像，通过选择狭缝方向可选择测量X光辐射过程沿负载轴向或径向空间分布。